Tema 1 | Memorias semiconductoras: tipos básicos. Memorias SRAM. Memorias DRAM. | Apuntes | Problemas | Información Complementaria |
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Tema_2 | Memorias ROM, PROM, EPROM y E2PROM. Memorias FLASH. Memorias FIFO y LIFO. Diseño de circuitos lógicos empleando PROMs. Test de memorias. | Apuntes | Problemas | Información Complementaria | |
Tema 3 | Dispositivos Lógicos Programables: PAL, GAL,
FPLA y EPLD. Programación de los PLD. |
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Tema 4 | Redes de Puertas Programables: FPGA | Apuntes | Problemas | Información Complementaria | |
Tema 5 | Circuitos secuenciales síncronos. Representación mediante diagramas ASM. Tabla de Estados. | Apuntes | Problemas | Información Complementaria | |
Tema 6 | Reducción de Tablas de Estados. Asignación de estados. Descripción mediante VHDL de Tablas de Estados. Simulación de circuitos síncronos utilizando VHDL. | Apuntes | Problemas | Información Complementaria | |
Tema 7 | Realización “hardware” de circuitos secuenciales síncronos utilizando componentes discretos. Realización empleando ROM. Realización con PLD. | Apuntes | Problemas | Información Complementaria | |
Tema 8 | Circuitos secuenciales asíncronos operando en modo fundamental. Representación mediante Disgramas de Flujo. Tablas de Flujo. Reducción de Tablas de Flujo. | Apuntes | Problemas | Información Complementaria | |
Tema 9 | Peligros y carreras en circuitos asíncronos. Asignación de estados. Realizacion de circuitos asíncronos utilizando lógica programable. Descripción mediante VHDL de Tablas de Flujo. Simulación lógica utilizando VHDL. Circuitos secuenciales asíncronos operando en modo pulso. | Apuntes | Problemas | Información Complementaria | |
Tema 10 | Test de circuitos digitales. odelos de fallas. Generación algorítmica de tests para circuitos combinacionales. Generación de tests para circuitos secuenciales. Introducción al Diseño para la Testabilidad (DFT) y al Autotest incorporado (BIST). | Apuntes | Problemas | Información Complementaria |